全反射X射線熒光(TXRF) 在文物油墨檢測中的應用

前言

古老的油畫和歷史手稿是寶貴的文化遺產，這些文物所用的顏料和墨水等原料讓人們能夠深入了解藝術史實等信息。此外，對油墨等原料的相關檢測還能夠提供原產地溯源、真偽等諸多信息，甚至對后續的修繕工作具有指導性作用。在諸多檢測手段中，元素檢測是重要的一項，其常見的檢測手段有：原子吸收、原子發射、質譜法、電子探針、中子活化分析、XRF等。

各種檢測方式的優缺點

雖然原子吸收、原子發射、質譜法、電子探針及中子活化分析都需要由文物上取樣，屬于有損分析，對有價值的藝術品來說，是無法接受的；XRF分析是非破壞性的，然而普通臺式設備對樣品大小并不友好。雖然，手持式XRF已有成功應用的案例，但其仍有如下的不足：過深的分析深度會涉及顏料層、清漆層、底層支撐物、甚至污染物、底層，所得信號可能無法代表顏料層，進而導致結果不具代表性。

TXRF分析特性

全反射X射線熒光光譜儀待檢測的樣品僅需要很少的量（微克或微升）置于載體之上便能滿足檢測需求，是一種非常溫和的技術。甚至取樣可僅使用棉簽在待分析位置輕輕擦涂少量油墨，便可置于樣品玻片，完成后續檢測。